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用于低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布時(shí)間：2022-02-25　點(diǎn)擊量：611

用于低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)技術(shù)

概述

檢查低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)變化。 

特征

(1) 可以在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量低磁導(dǎo)率的材料。 

(2) 材料質(zhì)量控制可以很容易地進(jìn)行。 

(3) 可以進(jìn)行混合不同材料的試驗(yàn)。

規(guī)格

測(cè)量范圍1.001-4
測(cè)量范圍1.03·1.1·1.3·2.0·4.0（5個(gè)范圍）
準(zhǔn)確性± 3% 范圍
校準(zhǔn)方法附標(biāo)準(zhǔn)試片
輸出DC 1V / FS（但是，當(dāng)設(shè)置范圍 1 時(shí)）
電源AC100V ± 10% 50 / 60Hz 約 50VA
外形尺寸（mm）/質(zhì)量260W x 162H x 310D（包括突起）約4kg