在選擇TEKHNE露點(diǎn)儀時，TK-100和TE-660是兩個核心系列，分別針對不同的工業(yè)測量需求。以下是兩者的關(guān)鍵對比及選型建議：

1. 核心差異概覽

2. 詳細(xì)技術(shù)對比

(1) 測量范圍與精度

• TK-100：

• 覆蓋-100°Cdp的干燥環(huán)境，適合超高純氣體（如半導(dǎo)體制造用氮?dú)猓?/span>

• 精度±2°Cdp，但在-50°Cdp以下表現(xiàn)更穩(wěn)定（干燥室系統(tǒng)提升響應(yīng)速度）。

• TE-660：

• 下限為-60°Cdp，適合常規(guī)工業(yè)氣體（如壓縮空氣、SF6）。

• 相同精度（±2°Cdp），但在-20°Cdp以上響應(yīng)更快（聚合物傳感器特性）。

(2) 傳感器與響應(yīng)速度

• TK-100：

• 陶瓷傳感器耐長期漂移（<0.5°Cdp/年），但初始響應(yīng)較慢（需干燥室預(yù)熱）。

• TE-660：

• 聚合物傳感器在15秒內(nèi)可響應(yīng)露點(diǎn)變化，適合快速巡檢。

(3) 設(shè)計與便攜性

• TK-100 NK-I型：

• 超輕（0.8kg），AA電池供電（15小時續(xù)航），適合野外或無電源環(huán)境。

• TE-660 NE型：

• 內(nèi)置過濾器、流量計，無需外接預(yù)處理，但重量稍大（3.5kg）。

(4) 擴(kuò)展功能

• TE-660支持4-20mA/Modbus輸出，可集成到控制系統(tǒng)；TK-100專注便攜測量，無信號輸出功能。

3. 選型建議

選擇TK-100系列若：

• 需要測量-80°Cdp以下的超低露點(diǎn)（如半導(dǎo)體光刻氣體）。

• 長期穩(wěn)定性優(yōu)先（如空分裝置連續(xù)監(jiān)測）。

• 場景需防爆（可選TK-100TR-EX型號）。

選擇TE-660系列若：

• 測量-60°Cdp以上（如壓縮空氣、塑料干燥機(jī)）。

• 要求快速響應(yīng)（如SF6開關(guān)水分檢測）。

• 需要一體化設(shè)計，減少外接配件。

經(jīng)濟(jì)性考量

• TK-100初始成本較高，但維護(hù)簡單（年換干燥劑）；

• TE-660需定期更換過濾器（每6個月），但操作更便捷。

4. 總結(jié)

• 干燥選TK-100，常規(guī)工業(yè)選TE-660。

• 若預(yù)算有限且無需超低露點(diǎn)，TE-660HD分體式型號更經(jīng)濟(jì)。