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產(chǎn)品型號(hào): FLASH FOCUS
所屬分類:探傷儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-06
簡要描述:日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS128通道并行驅(qū)動(dòng)型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市!在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測速度的特殊環(huán)境中,F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速,高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。
日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS
128通道并行驅(qū)動(dòng)型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市!
在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測速度的特殊環(huán)境中,F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速,高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。
多可并行驅(qū)動(dòng)128個(gè)元件
通過增加同時(shí)使用的元件數(shù)量,提高了光束聚焦能力,并且還增加了掃描圖案。
線性掃描
部門掃描
區(qū)域重點(diǎn)
動(dòng)態(tài)深度聚焦
體積聚焦技術(shù)(專li3704065)
xin的相控陣技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高速,高分辨率的缺陷檢測。
可以使用各種探針檢測缺陷
除了普通的線性探針,我們還使用矩陣探針和細(xì)間距探傷實(shí)現(xiàn)了更細(xì)的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進(jìn)行檢查。
線性探針
年度矩陣探測
方陣探頭
日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS
體積聚焦技術(shù)是我公司開發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)(專li3704065)。常規(guī)的相控陣掃描方法如下。
另一方面,體積聚焦是一次掃描整個(gè)橫截面(例如樣品體積)的新方法。通過同時(shí)激發(fā)所有元素來創(chuàng)建一個(gè)不分散的平面波。
每個(gè)平行的元素都從底面,夾雜物,缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后,并行數(shù)字硬件處理實(shí)時(shí)創(chuàng)建B掃描和C掃描。
從概念上講,體積焦點(diǎn)類似于DDF,但體積焦點(diǎn)可以覆蓋所有橫截面或體積,而不僅僅是沿深度軸。