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日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)x

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品型號(hào): LaserPIT

所屬分類:熱擴(kuò)散

產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-09

簡(jiǎn)要描述:日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT
該裝置是通過(guò)掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜,薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置。
在高導(dǎo)熱膜的情況下,也可以測(cè)量亞微米薄膜。

詳細(xì)說(shuō)明:

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT

該裝置是通過(guò)掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜,薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置。
在高導(dǎo)熱膜的情況下,也可以測(cè)量亞微米薄膜。

 

使用

  • 高導(dǎo)熱率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測(cè)量,例如CVD金剛石和氮化鋁
  • 各種金屬薄板材料(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測(cè)量,例如銅,鎳和不銹鋼
  • 低熱導(dǎo)率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測(cè)量,例如玻璃和樹(shù)脂材料
  • 各向異性高導(dǎo)熱石墨片(厚度<100μm),聚酰亞胺,PET和其他聚合物膜(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測(cè)量
  • 測(cè)量在玻璃基板上形成的氮化鋁薄膜,氧化鋁薄膜(厚度為100-300 nm)等(厚度為30μm)的熱導(dǎo)率
  • 在玻璃基板(厚度0.03 mm)上形成的DLC薄膜(厚度> 1μm)的熱導(dǎo)率測(cè)量
  • 在PET基板上形成的有機(jī)染料薄膜(厚度為100-300 nm)(厚度為0.1 mm)的熱導(dǎo)率測(cè)量
  • 評(píng)估各種濺射靶材

特征

  • 從金剛石到聚合物的各種鋼板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量
  • 適用于厚度為3至500μm的各種材料,例如自支撐片材,薄膜,電線和纖維
  • 可以通過(guò)微分法測(cè)量在基板上形成的厚度為100 nm至1000 nm的薄膜的熱導(dǎo)率*僅在室溫下
  • 可以通過(guò)簡(jiǎn)單的操作進(jìn)行測(cè)量
  • 可以通過(guò)專yong軟件進(jìn)行控制,測(cè)量和分析
  • 主體緊湊地集成了所有光學(xué),控制和測(cè)量系統(tǒng)

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT

規(guī)格

模型激光PIT-R激光PIT-M2
溫度范圍逆時(shí)針室溫?200℃
交流電激光二極管(685nm,30mW)
樣品尺寸自支撐薄板:寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度3至500μm
基板上的薄膜:寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度100納米至1000納米
測(cè)量周期0.05?10 /秒
測(cè)量氣氛在真空中

薄膜的熱導(dǎo)率測(cè)定方法(差值法)

LaserPIT使用玻璃基板來(lái)測(cè)量薄膜的熱導(dǎo)率。通過(guò)僅在一個(gè)玻璃基板的一半表面上形成薄膜的方法來(lái)測(cè)量玻璃基板的膜形成區(qū)域和非沉積區(qū)域。根據(jù)“兩個(gè)區(qū)域的測(cè)量結(jié)果”,“玻璃基板的厚度和體積比熱容”以及“薄膜厚度和體積比熱容”來(lái)評(píng)價(jià)薄膜的導(dǎo)熱率。



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