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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

產品型號：

所屬分類：電阻檢測儀

產品時間：2024-09-11

簡要描述：日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E
適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

詳細說明：

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E
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適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

  • 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性，因此穩(wěn)定性高

  • 兼容極小的芯片（低功耗測量）

  • 超高速 0.7msec.（代表值）

  • 由于熱電動勢抵消測量的高精度和高穩(wěn)定性

  • 通過各量程的測量值積分時間設定功能，實現(xiàn)超高速、高穩(wěn)定性的測量

  • % 測量：± 99.99% [5mΩ-109MΩ]

  • 絕對測量：0.00mΩ～200.00MΩ

  • 接觸檢查：可選擇測量前/測量后/OFF

  • RS-232C接口標準設備（GP-IB可選）

  • 打印機輸出標準設備（符合 Centronics）

  • 標配設定值傳輸功能：（將相同的設定數(shù)據(jù)傳輸至另一臺AE-162D并可自動設定）

  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路標準設備


日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C），校準后180天[校準后1年：1.5次]
測量范圍標準值設定范圍測量電流測量精度*
慢快速地
100mΩ5mΩ-100mΩ100mA± 0.02% ± 2a ± 2d± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω100.1mΩ～1Ω100mA±0.02%±a±1d以內± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω1.001Ω～10Ω50mA
100Ω10.01Ω-100Ω10mA±0.02%±1d以內± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ100.1Ω～1kΩ5mA
10kΩ1.001kΩ～10kΩ0.5mA
100kΩ10.01kΩ-100kΩ50μA
1兆歐100.1kΩ～1MΩ5μA± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ1.001MΩ ~ 10MΩ0.5μA±0.03%±1d以內± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ10.01MΩ ~ 109MΩ0.05μA±0.1%±2d以內────
* D = 位數(shù)，n = 積分時間（毫秒），% 測量值：α = (100 / 標準設定值 mΩ) x 0.01%，絕對值測量值：α = 0 (add ± 1d)
* 屏蔽狀態(tài)下的*精度
測量時間外部啟動自由奔跑
慢快速地慢快速地
大約 18 毫秒-400 毫秒。大約 0.7 毫秒-400 毫秒。約30次/秒～
約2次/秒		約60次/秒～
約2次/秒
測量端子開路電壓15V以下
測量結束信號（EOC）脈寬1 至 250 毫秒，可連續(xù)設定
測量方法4端測量/2端測量可切換
判斷值設定范圍%測量：±99.99%，絕對值測量：00000-20000
周邊環(huán)境溫度：0℃～+50℃，濕度：80%以下
需要電源AC85V～265V，50Hz～60Hz，約50VA
外形尺寸333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm（不包括橡膠腳墊等突出部分）
重量約3.5kg
選項? GP-IB
? 數(shù)據(jù)傳輸線
? 短接（零歐姆標準電阻）
? 轉換適配器（3P x 2?5P）




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